응용 사례 | 다이오드 I-V 특성 시험에 적용된 고정밀 SMU

다이오드는 가장 일반적인 반도체 2단자 부품으로, 저항·캐패시터·인덕터와 결합해 다양한 회로를 구성할 수 있습니다.

누설 전류(IR) 시험

역전압 조건에서 다이오드의 전류 레벨을 측정하는 시험입니다. 지정 역전압 소스를 인가하고 발생하는 미세 전류를 정밀하게 측정해야 합니다.

NGI N2600 — 통합 측정

일반적으로 다이오드 I-V 시험은 고감도 전류계·전압계·전압 소스·전류 소스가 모두 필요합니다. 이 모든 장비를 함께 사용해야 하는 번거로움이 있었습니다.

NGI N2600 SMU는 이 모든 기능을 하나의 계측기에 통합. 정밀 전원과 고성능 디지털 멀티미터를 결합해 단일 디바이스에서 전체 I-V 시험을 자동화합니다.

선형·로그 스윕 모드

N2600은 선형 스윕과 로그 스윕 모드를 통합 지원. 함수 관계와 보호점을 설정하면 자동으로 스윕이 실행됩니다.