응용 사례 | 고정밀 디지털 SMU의 홀 효과 시험 활용

AI·5G·자동차 지능화·IoT 같은 응용의 발전과 함께 글로벌 반도체 수요가 꾸준히 성장 중입니다. 홀 효과 측정은 반도체 부품 검증의 핵심 항목입니다.

외부 자기장과 수직으로 전류가 반도체에 흐르면 캐리어가 편향되어 추가 전기장이 생성되고, 그 전압이 측정됩니다. 이것이 홀 효과의 원리입니다.

NGI N2600 SMU 활용

NGI N2600 시리즈 고정밀 디지털 SMU를 홀 효과 시험에 적용. 홀 소자에 외부 자기장을 인가하고 여기 전류 Im=0.80000A에서 홀 전압 UH와 Is의 관계를 자동 측정합니다.

N2600의 강점

• 7단계 전류 설정 범위 — 측정 오차 최소화
• 초고속 스캐닝 — 시험 시간 대폭 단축
• 4사분면 동작 — 소스·싱크 모드 자유 전환